Prejsť na obsah
Výskum


Laboratórium mikroskopie AFM/MFM
Fakulta elektrotechniky a informatiky STU

Katedra/ústav:     Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva
Kontaktná osoba: Ing. Milan Pavúk, PhD.
Kontakt:              02-6029 1832
e-mail:                 milan.pavuk@stuba.sk
web stránka:        http://www.ujfi.fei.stuba.sk/

Charakteristika:

Mikroskopia atomárnych síl (AFM - Atomic Force Microscopy) je metóda, ktorá umožňuje skúmať vlastnosti povrchov vzoriek s vysokým priestorovým rozlíšením. Táto metóda je založená na meraní silovej interakcie pôsobiacej medzi sondou a povrchom vzorky. Sondu predstavuje ostrý hrot umiestnený na voľnom konci pružného nosníka. Tá je následne privedená do bezprostrednej blízkosti povrchu vzorky. Mechanické zmeny nosníka vyvolané pôsobením atomárnych síl sa detekujú optickým systémom.

Mikroskopia magnetických síl (MFM - Magnetic Force Microscopy) je režim prevádzky atómového silového mikroskopu v ktorom možno mapovať gradient magnetického pola nad povrchom vzorky.


Publikácie:

Miglierini, Marcel - Pavúk, Milan: Mössbauer and MFM investigations of surface magnetism in NANOPERM nanocrystalline alloys, Acta Physica Polonica A (in press)

Pavúk, Milan - Miglierini, Marcel - Sitek, Jozef: Magnetic Structure at the Surface of a FeZrB Alloy. In: APCOM 2013. Applied Physics of Condensed Matter : Proceedings of the 19th International Conference. Štrbské Pleso, Slovenská republika, 19-21 júna 2013. - Bratislava, 2013. - ISBN 978-80-227-3956-6. - s. 103-106

Pavúk, Milan - Ballo, Peter - Brunner, Boris - Weis, Martin: MFM Study of Core/Cover Interface in a MgB2/Fe Superconducting Wire. In: APCOM 2012. Applied Physics of Condensed Matter : Proceedings of the 18th International Conference. Štrbské Pleso, Slovenská republika, 20-22 júna 2012. - Bratislava, 2012. - ISBN 978-80-227-3720-3. - s. 361-364

 

Fotografie:


Obr. 1: Atómový silový mikroskop a jeho komponenty.
Zľava: riadiaca jednotka, počítač a mikroskop.


Obr. 2: Mikroskop umiestnený na antivibračnom pneumatickom stole pod izolačným krytom.


Obr. 3: Atómový silový mikroskop Dimension Edge™ od firmy Veeco.